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半導體檢測機

產品用途： 半導體IR隱崩檢查機，可穿透硅晶圓(Silicon Wafer)，進行隱崩檢測。

應用領域

  • 產品描述
    • 商品名稱: 半導體檢測機
    • 商品編號: DSI-2000

    產品用途： 半導體IR隱崩檢查機，可穿透硅晶圓(Silicon Wafer)，進行隱崩檢測。

    隨著半導體(Semiconductor)的制程越來越精細，晶圓(Wafer)越做越薄，晶圓級封裝所面臨的質量挑戰(zhàn)越來越大， 擁有專利的IR隱崩檢測機，可穿透硅晶圓(Silicon Wafer)，幫助客戶確認IC是否有背崩、隱裂及隱崩的問題，并可搭載全自動上下料系統(tǒng)及自動判斷軟件，進行有效的質量管控。

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